Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings
عنوان
Paper

Delay in Fault Tolerant Structures for Nanoscale Gates

تعداد صفحات: 5 | تعداد نمایش خلاصه: 70 | نظرات: 0
سال انتشار: 1398
کد COI Paper: ICMCONF01_024
زبان Paper: Englishglish
(فایل این Paper در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این Paper

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این Paper را خریداری نمایید.

با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک Paper) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید.در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.

لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این Paper، ابتدا تعداد صفحات Paper را در بالای این صفحه کنترل نمایید.

برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل Paper

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 5 صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : 3,000 تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان Paper Delay in Fault Tolerant Structures for Nanoscale Gates

Mansoureh Labafniya - Department of computer engineering University of Isfahan
Hasan Abdi - Arak branch of Islamic Azad University

چکیده Paper:

Redundancy is a method in the system for designing fault-tolerant structure with the Nanoscale gate in electronic systems. Until now, many ways represented for this purpose, which increases complexity or decreases the reliability of the system. In this paper, we compare two methods for designing a fault-tolerant structure with Nanoscale gates. These ways are NAND Multiplexing (NM) and Averaging Cells (AC). According to simulations to evaluate the area cost and reliability of the gates in [1], it indicates that NM based gates are more reliable than AC gates when the error probabilities of the circuit parts are lower than 0.003. However, when this value is exceeded (which is expected for electronic nanotechnologies), AC gates are more reliable at a lower area cost. In this paper, we show comparing the NM and the AC in the aspect of the delay parameter. It indicates that the AC method has a constant delay, but the delay of the NM system will rise with increasing redundancy. Overally, the overhead of the AC method for designing a fault-tolerant system with the Nanoscale gate is lower than the NM method in the aspect of the area and delay time with better reliability.

کلیدواژه ها:

Fault-Tolerance, NAND Multiplexing, Averaging Cell, Delay, reliability.

کد Paper/لینک ثابت به این Paper

برای لینک دهی به این Paper می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت Paper در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/1000873/

کد COI Paper: ICMCONF01_024

نحوه استناد به Paper:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این Paper ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
undefined, undefined و undefined, undefined,1398,Delay in Fault Tolerant Structures for Nanoscale Gates,اولین کنفرانس میکروالکترونیک ایران,Tehran,,,https://civilica.com/doc/1000873

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این Paper اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1398, Labafniya, Mansoureh؛ Hasan Abdi)
برای بار دوم به بعد: (1398, Labafniya؛ Abdi)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

Research Info Management

Certificate | Report Paper

Export Citation info of this Paper to research management softwares

علم سنجی و رتبه بندی Paper

مشخصات مرکز تولید کننده این Paper به صورت زیر است:
نوع مرکز: state university
تعداد مقالات: 13,346
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

New RelatedPapers

Share this paper

WHAT IS COI?

COI is a national code dedicated to all Iranian Conference and Journal Papers. the COI of each paper can be verified online.

Support