مطالعه نانوصفحات WS2 آلاییده با Ti به روش طیف سنجی عدسی گرمایی
Publish place: National Conference on Knowledge Based Research in Oil, Gas, Refining and Petrochemical Industries
Publish Year: 1399
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 455
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
RLSCONF01_081
تاریخ نمایه سازی: 25 تیر 1399
Abstract:
نانوصفحات تنگستن دی سولفید آلایش یافته با تیتنیوم به روش لایه نشانی بخار شیمیایی تهیه شدند. اثر مقدار آلایش تیتانیوم نمونه ها در اندازه سیگنال عدسی گرمایی چهار نمونه: تنگستن دی سولفید بدون آلایش تیتانیوم و با آلایش 10، 20 و 30 درصد مطالعه شد. سیگنال عدسی گرمایی به روش عدم تطابق مدی لیزرهای دمش و کاوشگر و در دو فرکانس مدولاسیون مختلف برای باریکه دمش انجام شد. نتایج افزایش سیگنال با افزایش غلظت تیتانیوم را نشان داد. همچنین در فرکانس مدولاسیون کمتر، اندازه سیگنال نمونه ها بیشتر و نمودار خطی سیگنال بر حسب غلظت تیتانیوم شیب بزرگتری را نشان داد.
Keywords:
طیف سنجی عدسی گرمایی , نانوصفحات , تنگستن دی سولفید , تیتانیوم , لایه نشانی بخار شیمیایی , رفتار فرکانسی
Authors
فاطمه مطرودی
دکتر، استادیار دانشگاه شهید چمران اهواز، اهواز، ایران
اومبرتو کابررا
دکتر مرکز بین المللی عبدالسلام برای فیزیک نظری، تریست ۳۴۱۵۱، ایتالیا
علی احمدی
دکتر، استاد دانشگاه شهید چمران اهواز، اهواز، ایران
مرتضی زرگر شوشتری
دکتر، استاد، دانشگاه شهید چمران اهواز، اهواز، ایران