فاطمه مطرودی - دکتر، استادیار دانشگاه شهید چمران اهواز، اهواز، ایران
اومبرتو کابررا - دکتر مرکز بین المللی عبدالسلام برای فیزیک نظری، تریست ۳۴۱۵۱، ایتالیا
علی احمدی - دکتر، استاد دانشگاه شهید چمران اهواز، اهواز، ایران
مرتضی زرگر شوشتری - دکتر، استاد، دانشگاه شهید چمران اهواز، اهواز، ایران

نانوصفحات تنگستن دی سولفید آلایش یافته با تیتنیوم به روش لایه نشانی بخار شیمیایی تهیه شدند. اثر مقدار آلایش تیتانیوم نمونه ها در اندازه سیگنال عدسی گرمایی چهار نمونه: تنگستن دی سولفید بدون آلایش تیتانیوم و با آلایش 10، 20 و 30 درصد مطالعه شد. سیگنال عدسی گرمایی به روش عدم تطابق مدی لیزرهای دمش و کاوشگر و در دو فرکانس مدولاسیون مختلف برای باریکه دمش انجام شد. نتایج افزایش سیگنال با افزایش غلظت تیتانیوم را نشان داد. همچنین در فرکانس مدولاسیون کمتر، اندازه سیگنال نمونه ها بیشتر و نمودار خطی سیگنال بر حسب غلظت تیتانیوم شیب بزرگتری را نشان داد.

طیف سنجی عدسی گرمایی، نانوصفحات، تنگستن دی سولفید، تیتانیوم، لایه نشانی بخار شیمیایی، رفتار فرکانسی