علیرضا مسلمانی - دانشکده برق و کامپیوتر، دانشگاه تهران، تهران، ایران
امید شعاعی - دانشیار، دانشکده برق و کامپیوتر، دانشگاه تهران، تهران، ایران

در این مقاله، روش جدیدی برای بهبود خطینگی کلید نمونه برداری در مبدلهای داده ارائه شده است. این کار به کمک یک ترانزیستور اتصال دیودی که در کنار کلید اصلی اضافه شده، انجام میشود. نتایج شبیه سازی با استفاده از فناوری 180nm CMOS نشان می دهد که اعوجاج هارمونیکی ساختار ارائه شده برای نرخ نمونه برداری 100MS/s برابر با -93dB بوده که نسبت به ساختار متعارف بهبود قابل توجهی پیدا کرده است.

کلید نمونه برداری، اعوجاج هارمونیکی، مبدل داده، ترانزیستور اتصال دیودی.