طیف نگاری ارتباط فوتونی
Publish place: 1st National Conference on Nano Science and Technology
Publish Year: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,120
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NNTC01_418
تاریخ نمایه سازی: 8 آبان 1389
Abstract:
با بوجود گسترش فناوری نانو نیاز به پیشرفت روشهای انالیز دقیق که یکی از مهمترین نیازهای این علم می باشد به وجود امد. روشهای متعددی برای انالیز خواص مختلف مواد نانو وجوددارد مهمترین خاصیت مواد نانو که باید اندازه گیری شود تعیین اندازه مواد نانو می باشد که با توجه به اندازه خیلی کوچک این مواد به ابزارها و روشهای خاصی نیازمند است طیف نگاری ارتباط فوتونی در کنار میکروسکوپ های الکترونی جزء دیگر روشهایی هستند که قادر به اندازه گیری مواد با اندازه های کوچکتر از 10 نانومتر می باشند دراین مقاله به شرح روش فوق پرداخته خواهد شد.
Authors
محمدحسین خزاعی
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
حبیب دانش منش
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
جلال عباسپور
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
حامد چاقروند
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :