مورفولوژی نانوساختارهای سیلیکان متخلخل بوسیله طیف بازتاب
Publish place: 1st National Conference on Nano Science and Technology
Publish Year: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 899
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NNTC01_554
تاریخ نمایه سازی: 8 آبان 1389
Abstract:
طیف بازتاب چهار نمونه سیلیکان متخلخل تحت زمانهای اندیزاسیون 2 ، 6 ، 10 و 14 دقیقه اندازه گیری شد افت و خیز طیف بازتاب برای هرچهار نمونه یکسان اما شدت آنها متفاوت بود و با افزایش زمان، شدت بازتاب، کاهش می یافت علاوه براین محدوده کمترین بازتاب برناحیه گاف انرژی منطبق است بنابراین با استفاده از طیف بازتاب نیز این ناحیه قابل تشخیص است علاوه براین مشابه رفتار PL در PS ثابت شد که تشابه افت و خیز نمونه ها و ثابت ماندن ناحیه گاف انرژی در طیف بازتاب آنها به دلیل ثابت بودن غلظت محلول الکترولیت است.
Authors
ستاره ابراهیم نسب
گروه فیزیک دانشگاه الزهرا تهران