روزبه امیری - موسسه مطالعات پیشرفته ، تهران ۶۳۵۴-۱۴۴۵۶
فواد خادمی جهرمی - موسسه مطالعات پیشرفته ، تهران ۶۳۵۴-۱۴۴۵۶
علیرضا حیدری - موسسه مطالعات پیشرفته ، تهران ۶۳۵۴-۱۴۴۵۶

دراین تحقیق سیستم لایه نازک Ag-SiO2 با غلظتهای مختلف نقره 0/2%،0/4%،1/6%،8%برسطح زیرلایه soda-lime ساخته شدند پس از مرحله پخت نمونه ها بررسی خواص فیزیکی و شیمیایی لایه های نازک سیلیکا SiO2 حاوی نانو ذرات نقره توسط اندازه گیری اپتیکی برای تعیین خواص نوری لایه ها توپوگرافی و ریزساختار نمونه ها توسط میکروسکوپ اتمی AEM میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM اندازه گیری دقیق سایز نانوذرات نقره و توزیع آنها در سطح و حجم لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM انجام شد براساس تحلیل نتایج به دست امده از روشهای مذکور بدون انجام عملیات حرارتی مناسب نانوذرات نقره در غلظتهای خیلی کم نقره 0/2% و یا خیلی زیاد 8% تشکیل نمی شود بلکه با در نظر گرفتن غلظت اولیه نقره در یک ناحیه میانی این امر صورت میگیرد درواقع نانوذرات Ag دراین غلظتهای حدی در دمای پخت 200 درجه سانتی گراد تشکیل می شود همچنین براساس مشاهدات TEM حداقل متوسط اندازه ذرات سنتز شده برای غلظت 0/2% نقره در حدود 4nm تعیین گردید.

نانوذرات ، روش سل - ژل، لایه نازک Ag-SiO2 ، نقره نیترات