آشکارسازی دیواره حوزه های مغناطیسی درهم پیچیده در تصاویر میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)

در این پژوهش یک روش نوین جهت نمایش الگوی حوزه های مغناطیسی در تصاویر میکروسکوپ نیرو مغناطیسی (MFM)ارائه شده است. ابتدا سطح نمونه 49 آلیاژ پرمالوی (49Ni-Fe) با استفاده از میکروسکپ نیروی مغناطیسی و به وسیله سوزنمغناطش شده در جهت عمودی (PM) روبش شده و سپس پردازش تصویر به کمک مشتق گیری 360 درجه جهت آشکارسازیدیوارهای مغناطیسی در نمونه انجام می شود. در این روش پردازش تصویر، از فیلتر فوریه در راستای حذف نویزهای ناشی ازدستگاه MFM از سیگنال خالص مربوط به برهمکنش بین سوزن و سطح نمونه استفاده شده است. نمونه پرمالوی با ترکیب49Ni-Fe به مدت 3 ساعت در دمای 1150°C تحت آتمسفر هیدروژن بازپخت شده است. بر اساس این روش یک نرم افزاراختصاصی به کمک NI LabVIEW به زبان G برنامه نویسی شده است که قادر به آشکارسازی محل دیوارهای مغناطیسیدر تصویر MFM است. دیوارهای مغناطیسی در تصاویر پردازش شده به صورت خطوط سیاه ملاحظه می شوند که این امرتفسیر تصاویر پردازش شده را نسبت به تصاویر خام MFM تسهیل می کند. علاوه بر این، نتایج نشان می دهند که با آشکارسازیدیوارهای مغناطیسی، تصاویر MFM از لحاظ کمی قابل ارزیابی هستند. آنالیز کمی بر روی تصویر نمونه پرمالوی نشان میدهدکه فاصله دیوارهای حوزه های مغناطیسی این نمونه برابر 973nm با انحراف معیار 250nm است.

Keywords:

میکروسکوپ نیرو مغناطیسی , دیوارهای مغناطیسی , پردازش تصویر , آلیاژ پرمالوی