ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings
Paper
Title

بررسی اثر دمای کلسیناسیون بر ساختار و خواص دی الکتریک لایه های نازک (Sr(0.85)Mg(0.15)TiO(3 سنتز شده به روش رسوب نشانی فاز مایع بر روی زیرلایه های آلومینایی

Year: 1399
COI: IMES14_069
Language: PersianView: 25
This Paper With 9 Page And PDF Format Ready To Download

Buy and Download

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این Paper را که دارای 9 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

Authors

هومان نیکنام - دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه کاشان، دانشکده مهندسی، گروه مهندسی مواد و متالورژی
عباس صادق زاده عطار - استادیار، دانشگاه کاشان، دانشکده مهندسی، گروه مهندسی مواد و متالورژی

Abstract:

در این تحقیق، لایه های نازک تیتانات استرانسیم دو پت منیزیم با ترکیب (Sr(0.85)Mg(0.15)TiO(3 به روش رسوب نشانی فاز مایع برروی زیر لایه های آلومینایی سنتز شد. نمونه ها در دماهای مختلف 600 ، 700 ، 800 و 900 درحه سانتیگراد به مدت 120 دقیقهکلسینه شده و اثرات دمای کلسیناسیون بر خواص ساختاری و دی الکتریکی آنها مورد بررسی و ارزیابی قرار گرفت. در ادامه لایه هایسنتز شده به وسیله دستگاه های FE-SEM, AFM, XRD و LCR متر آنالیز و مشخصه یابی شدند. تصاویر FE-SEM وAFM گویای تشکیل لایه نازکی فشرده، صاف و یکنواخت با متوسط اندازه دانه هایی در حدود 80 نانومتر و ضخامتی حدود 300نانومتر بر روی زیرلایه می باشد. نتایج بررسی خواص دی الکتریک لایه های نازک سنتز شده نشان داد که با افزایش دمای آنیل از600 به 700 درجه سانتیگراد ثابت دی الکتریک افزایش و اتلاف دی الکتریک کاهش می یابد، بطوریکه حداکثر ثابت و حداقل اتلافدی الکتریک در دمای 700 درجه سانتیگراد بدست آمد. کاهش ثابت دی الکتریک و افزایش اتلاف دی الکتریک با افزایش دما به800 و 900 درجه سانتیگراد احتمالاً به افزایش اندازه دانه ها و تشکیل فازهای ثانویه در ترکیب مربوط می باشد.

Keywords:

لایه های نازک، (Sr(0.85)Mg(0.15)TiO(3 ، دمای کلسیناسیو ن، فرایند رسوب نشانی فاز مایع، خواص ساختاری و دی الکتریکی

Paper COI Code

برای لینک دهی به این Paper می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت Paper در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/1133330/

How To Citation:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این Paper ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
نیکنام، هومان و صادق زاده عطار، عباس،1399،بررسی اثر دمای کلسیناسیون بر ساختار و خواص دی الکتریک لایه های نازک (Sr(0.85)Mg(0.15)TiO(3 سنتز شده به روش رسوب نشانی فاز مایع بر روی زیرلایه های آلومینایی،نهمین کنفرانس و نمایشگاه بین المللی مهندسی مواد و متالورژی ایران و چهاردهمین همایش ملی مشترک انجمن مهندسی متالورژی و مواد ایران و انجمن ریخته گری ایران،،،https://civilica.com/doc/1133330

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این Paper اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1399، نیکنام، هومان؛ عباس صادق زاده عطار)
برای بار دوم به بعد: (1399، نیکنام؛ صادق زاده عطار)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

Research Info Management

Certificate | Report | من نویسنده این مقاله هستم

اطلاعات استنادی این Paper را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی Paper

مشخصات مرکز تولید کننده این Paper به صورت زیر است:
نوع مرکز: دانشگاه دولتی
تعداد مقالات: 5,394
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

New Papers

Share this page

More information about COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

Support