مهران سدرپوشان - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی اصفهان، اصفهان
حسین احمدوند - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی اصفهان، اصفهان

لایه‌های نازک کبالت - پالادیوم با نسبت‌های مختلف، (CoxPd100-x(x=23,36,43 ، به روش لیزر پالسی روی زیرلایه فیوز سیلیکا (SiO2 آمورف) رشد داده شدند. به‌منظور مشخصه‌یابی ساختاری نمونه‌ها از تحلیل‌های بازتابش پرتو ایکس (XRR) و پراش پرتو ایکس (XRD) و برای بررسی ویژگی‌های مغناطیسی از دستگاه اندازه‌گیری ویژگی‌های فیزیکی (PPMS) استفاده شد. نتایج نشان می‌دهند که لایه‌ها ضخامتی در محدوده 16 تا 20 نانومتر دارند و‌ ساختار بلوری آن‌ها مکعبی مرکز حجمی (FCC) است. همچنین لایه‌ها دارای رشد مرجح در راستای [111]هستند. بررسی ویژگی‌های مغناطیسی این لایه‌ها نشان می‌دهد که با افزایش نسبت پالادیوم به کبالت، ناهمسانگردی مغناطیسی متمایل به جهت عمود بر لایه می‌شود که این اثر به تقویت برهمکنش اسپین - مدار ارتباط داده شده است. همچنین در این پژوهش اثر ضخامت بر ناهمسانگردی مغناطیسی موردبررسی قرار گرفته است.

لایه‌نازک, لایه‌نشانی لیزر پالسی, کبالت - پالادیوم, ناهمسانگردی مغناطیسی