محمود عزیزی - دانشکده علوم، دانشگاه پیام نور، تهران، ایران.
پروین سرآبادانی - پژوهشکده فیزیک و شتابگرها، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، کرج، ایران.
علی هاشمی زاده عقدا - دانشکده علوم، دانشگاه پیام نور، تهران، ایران.
هوشنگ بختیاری - پژوهشکده فیزیک و شتابگرها، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، کرج، ایران.

در این تحقیق، رفتار لومینسانس پایین رونده فسفراکسید ایتریم آلائیده شده با یونهای یوروپیم و ایربیم مورد بررسی قرار گرفت. نمونه های فسفر به روش رسوبگیری همگن با استفاده از اوره تهیه شدند و خصوصیت یابی نمونه های فسفر با استفاده از تکنیکهای پراش اشعه ایکس، میکروسکوپ الکترونی روبشی، پراش انرژی اشعه ایکس، طیف سنجی مادون قرمز تبدیل فوریه، فوتولومینسانس مورد بررسی قرار گرفت. ساختار مکعبی فسفر با استفاده از پراش اشعه ایکس تائید شد. با ثابت نگه داشتن غلظت یون یوروپیم 0/05) درصد مولی)، اثر غلظت یون ایربیم ( 0/0، 0/1، 0/15، 0/20 و 0/25 درصد مولی) برروی نشر پایین رونده لومینسانس مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان داد که این سطح از آلاینده ها تاثیری بر ساختار شبکه میزبان ندارد اما بر شدت روشنایی موثر است. بررسی ها نشان داد که شدت نشر این فسفرهای پایین رونده با افزایش غلظت یون ایربیم از 0/1 تا 0/2 درصد مولی افزایش یافته سپس به دلیل اثر خاموشی کاهش می یابد.

اکسید ایتریم، یوروپیم، ایربیم، آلاینده، فوتولومینسانس