محمدحسین امینی - گروه مهندسی برق و الکترونبک، دانشگاه شاهد، تهران، ایران
علیرضا ملاح زاده - گروه مهندسی برق و الکترونیک، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه شاهد، تهران

مدارهای مایکروویو ابررسانا از عنصرهایی متشکل از خطوط انتقال ابررسانا ساخته می شوند. هر چند که ابررساناها عملکرد سامانه را در سرعت بالا و کف نویز پایین فراهم می کند، اما تزویج میدان الکترومغناطیسی خارجی به آن ها می تواند در عملکرد این سیستم ها اختلال به وجود آورد. در این مطالعه ابتدا در حوزه طیفی یک رهیافت کلی جهت تحلیل رفتار الکترومغناطیسی ساختارهای ابررسانا در زوایای تابش مختلف ارائه می شود. سپس به کمک روش ارائه شده، تاثیرپذیری خطوط ریزنوار ابررسانا در تابش مایل مورد بررسی قرار می گیرد. این بررسی اثر ضخامت فیلم ابررسانا بر تاثیرپذیری خط را شامل می شود. مطابق با نتایج حاصل شده، بیشینه حساسیت پذیری برای تمام ضخامت ها با توجه به طول معمول به کار رفته در مدارات، در تابش با زاویه ۸۰ درجه اتفاق می افتد اما مقدار آن برای ضخامت های مختلف متفاوت است. رفتار متفاوت جریان القایی در ضخامت های مختلف به علت تفاوت در امپدانس معادل ساختار است. همچنین از آنجا که برای فیلم های نازک راکتانس معادل بیشتر است، میزان حساسیت پذیری کمتر می گردد.      

تاثیرپذیری, ابررسانایی, حوزه طیفی, روش ممان