معرفی اتاق های تست بدون انعکاس مدرن برای اندازه گیری سازگاری الکترومغناطیسی زیر سیستم های الکترونیکی و مخابراتی
عنوان مقاله: معرفی اتاق های تست بدون انعکاس مدرن برای اندازه گیری سازگاری الکترومغناطیسی زیر سیستم های الکترونیکی و مخابراتی
شناسه ملی مقاله: ECDS07_034
منتشر شده در هفتمین همایش سراسری علوم و مهندسی دفاعی سپاه در سال 1399
شناسه ملی مقاله: ECDS07_034
منتشر شده در هفتمین همایش سراسری علوم و مهندسی دفاعی سپاه در سال 1399
مشخصات نویسندگان مقاله:
ضرغام رستمی - عضو هیئت علمی دانشکده و پژوهشکده فاوا دانشگاه جامع امام حسین (ع)
تورج فیضی مربی - پژوهشگر دانشکده و پژوهشکده چنگال دانشگاه جامع امام حسین (ع)
محمد اسحقی - پژوهشگر دانشکده و پژوهشکده فاوا دانشگاه جامع امام حسین (ع)
خلاصه مقاله:
ضرغام رستمی - عضو هیئت علمی دانشکده و پژوهشکده فاوا دانشگاه جامع امام حسین (ع)
تورج فیضی مربی - پژوهشگر دانشکده و پژوهشکده چنگال دانشگاه جامع امام حسین (ع)
محمد اسحقی - پژوهشگر دانشکده و پژوهشکده فاوا دانشگاه جامع امام حسین (ع)
به طور معمول اتاق های بدون انعکاس، سلول TEM و GTEM برای اندازه گیری گسیل های تشعشعی و هدایت شده RF داخلی و خارجی در محصولات مصرفی الکترونیکی، مخابراتی، تجهیزات پزشکی و غیره استفاده می شوند. در این مقاله ابتدا ساختار هندسی و کاربرد اتاق بدونا نعکاس، سلول TEM و GTEM برای اندازه گیری گسیل های تشعشعی و هدایت شده RF در محصولات الکترونیکی و مخابراتی معرفی شده است. سپس سلول TEM قابل حمل برای تعیین گسیل های تشعشعی و هدایت شده در محصولات کوچک ارائه شده است. و هم چنین به دلیل عدم کارآمدی سلول TEM در فرکانس های بالا تر از یک گیگاهرتز سلول GTEM در حد آخرین آوری برای انداره گیری گسیل های تشعشعی و هدایت شده در محصولات کوچک پیشنهاد شده است. در ادامه یک نمونه عملکرد جاذب های کاشی فریت در سلول GTEM نشان می دهد که اثر ضخامت جاذب های کاشی فریت موجب حذف سیگنال های باز گشتی در محصولات می شود ارائه گردیده است.
کلمات کلیدی: ؛EMC، سازگاری الکترو مغناطیسی، دستگاه تحت آزمایش، OATS ،DUT تست در فضای باز GTEM CLL، سلول الکترومغناطیسی عرضی گیگاهرتز
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1235535/