طراحی و شبیه سازی یک IC منطبق با استاندارد IEEE1149.1 برای تستجاروب مرزی وارائه محدودیت های آن

Publish Year: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,086

This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ISCEE10_005

تاریخ نمایه سازی: 7 آذر 1390

Abstract:

دسترسی به نقاط تست در سطح وسیع و کامل در هنگام تست بردهای مدارچاپی از اهداف مهم در طراحی یک برد مدارچاپی محسوب می شود زمانی که دسترسی به نقاط تست درروی برد مدار چاپی کامل نباشد دراین صورت روشهای تست معمول برای تست بردهای مدارچاپی کارایی لازم را نخواهد داشت بنابراین باید شیوه جدیدی جهت تست جستجو کرد روش پیشنهادی در این مقاله تست بردهای مدارچاپی که المان آنها منطبق بر استاندارد IEEE1149.1 هستند را با استفاده از چهارخط خط پنجم اختیاری و بدون نیازبه دسترسی فیزیکی مقدور می سازد IC های به کاررفته در طراحی بردهایی که با استفاده از این روش تست می شوند باید دارای ساختمان خاصی باشند تا بتوانند دستورالعملهایی که دراین استاندارد تعریف می شوند را اجرا کنند.

Authors

سمیه رحمانی خوجین

مرکز تحقیقات مخابرات ایران

سعید گل محمدی هریس

دانشگاه تربیت مدرس تهران گروه الکترونیک

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • IEEE Standards Board, IEEE Std 1149.1 Approved Standard Test Access ...
  • IEEE Standards Board, IEE Stud 1149.1a Approved June17, 1993 , ...
  • ، _ oundary_scan Logic Fully compliant with IEEE Std 1 ...
  • ":JTAG (IEEE 1149.1/ P1149.4) Tutorial Introductory" Printed from www.ti.com. ...
  • نمایش کامل مراجع