تولیدخودکار بردار آزمون برای آشکارسازی خطای اتصال 0و1 در سطح گیت مدارات دیجیتالی با استفادها ز الگوریتم ژنتیک
Publish place: 10th Annual Conference of Computer Society of Iran
Publish Year: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,131
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ACCSI10_052
تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1390
Abstract:
تولید بردار آزمون یکی از مسائل مهم در آزمون مدارای دیجیتالی می باشد دراین مقاله تولید بردار آزمون برای مدارات دیجیتالی در سطح گیت برای آشکارسازی خطای اتصال به 1 یا 0 با استفاده از الگوریتم ژنتیک مورد نظر می باشد روش مورد نظر در حالت وجود چندین خطا multi-fault و مدارات دارای fan-out و درحالتیکه تعداد ورودی ها مدار بالا باشد دارای عملکرد مناسب می باشد نتایج شبیه سازی کارایی این روش تولید بردار ازمون برای مدارات دیجیتالی را نشان میدهد.
Keywords:
تولید بردار آزمون , الگوریتم ژنتیک , خطای اتصال به صفر یا یک , fan-out , multi-fault , و مدار سطح گیت
Authors
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :