استفادها ز شبکه های عصبی درتست مدارهای mixed-signal

Publish Year: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,043

This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ACCSI10_054

تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1390

Abstract:

در دو دهه گذشته تکنیکهای شبکه های عصبی به عنوان یک روش متکی برداده به بلوغ رسیده اند و افق کاملا جدیدی را در عرصه های تشخیص خطا به وجود آورده اند با گسترش سریع هر دو صنعت مدارهای آنالوگ و دیجیتال مبحث تست درحال تبدیل شدن به موضوعی فوق العاده مهم است استفاده از شبکه های عصبی روشی موفق در تشخیص خطا است دراین مقاله استفاده از شبکه عصبی در تشخیص خطا در مدارهای Mixed-signal و به عنوان نمونه یک 3ADC بیتی از نوع flash را بررسی می کنیم سپس نتایج را با سه روش FFT هیستوگرام و Sine fit مقایسه می کنیم درنهایت به این نتیجه رسیدیم که روش شبکه عصبی می تواندنقش قابل توجهی در تشخیص خطا و تعیین محل وقوع آن داشته باشد.

Keywords:

Authors

کریم محمدی

دانشگاه علم و صنعت ایران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Neural Networks for Fault Diagnosis", Usingا- [I] Jia-Zhou He, Zhi-Hua ...
  • Litovski, V.B.; Andrejevic, M.; "Electronic modeling using ANNs for analogue ...
  • J. Starzyk, J. Pang, :Fault Diagnosis in Analog and Nlixed ...
  • Peter B.L. Meijer, -Neural Networks for Device and Circuit Modeling", ...
  • S. Chakrabarti, S. Cherubal, A. Chatterjee, "Fault diagnosis for mixed ...
  • simon Haykin, ،Neural .Networks: . Comprehensive Foundation, Prentice Hall, _ ...
  • _ Demuth, 1Mark Beale, Neaural _ Toolbox for [Use _ ...
  • I. Dalmi, L. Kovacs, _ Lorant, G. Terstranszky, "Adaptive leaming ...
  • Nohammadi. K., Mohseni. A. R., -Fault diagnosis of analog circuits ...
  • 1, Issue 5 (October 2003), Special section on low power, ...
  • _ Yervant Zoria. Principles of Testing Electronic Systems. John Wiley ...
  • _ _ _ IEEE، tsia-Pacific Conference _ Circtuits and Systems, ...
  • _ _ _ _ Test Symposium (VTS'00). April 30 - ...
  • _ Lucas, ،ADC Definitions and Specifications AN2438/D, 2/2003, Application Note, ...
  • نمایش کامل مراجع