بررسی ارتباط بین ضخامت و خصوصیات اپتیکی فیلمهای نازک اکسید وانادیوم تهیه شده به روش سل-ژل

Publish Year: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 975

This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

CMRCE03_295

تاریخ نمایه سازی: 13 دی 1390

Abstract:

در این تحقیق فیلم های اکسید وانادیوم با استفاده از روش سل ژل با انحلال پودر وانادیوم پنتاکساید V2O5 در محلول پراکسایدهیدروژنH2O2 تهیه شدند. پس از تهیه سل از آن جهت پوشش دهی بر روی زیر لایههای شیشهای جهت آنالیزهای (UV-VIS استقاده شد.سپس به مدت یک ساعت در دمای 150 درجه تحت عملیات گرمایش قرار گرفتند. رنگ فیلمهای بدست آمده زرد مایل به نارنجی بود که مشابه فیلم های نازک پلی کریستالی وانادیوم پنتاکساید است. نتایج حاصل از نقش پراش پرتو ایکس نشان میدهد ساختار بالکی در دمای 450 پلی کریستالی است. برای محاسبه ثابتهای اپتیکی فیلم ها از روش بهبنه سازی نامقید که تنها بر پایه طیف عبوری وابسته است، استفاده شد. نتایج بدست آمده نشان می دهد افزایش دفعات غوطه وری ضخامت لایه ها را منجر می شود و این سبب افزایش ضریب شکست و ضریب جذب لایهها میشود.گاف نواری انرژی بدست آمده برای تمامی نمونه ها 2.3eV است نتایج حاصل از میکروسکوپ نیرو اتمی نشان میدهد پارامترهای زبری فیلمهای تهیه شده با افزایش ضخامت نمونه ها افزایش می یابد.

Keywords:

لایه نازک , اکسید وانادیوم , پراش پرتو ایکس , سل ژل و میکروسکوپ نیرو اتمی

Authors

عباس صبور

دانشگاه آزاد اسلامی واحد امیدیه ، بلوار دانشگاه ، امیدیه