تاثیر پتانسیل بر ترکیب شیمیایی و پروفیل غلظتی لایه رویین فولاد زنگ نزن ۳۱۶ کم کربن در محلول اسید سولفوریک ۰۵/۰ مولار

در این تحقیق، تاثیر پتانسیل بر ترکیب شیمیایی و پروفیل غلظتی عناصر در لایه رویین تشکیل شده روی فولاد زنگ نزن ۳۱۶ کم کربن در محلول ۰۵/۰ مولار اسید سولفوریک با استفاده از تحلیل طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس بررسی شد. برای تشکیل لایه رویین در بازه رویین شدن، چهار پتانسیل ۲/۰-، ۲/۰، ۵/۰ و VSCE ۸/۰ انتخاب و نمونه ها در پتانسیل های تشکیل مربوطه به مدت ۶۰ دقیقه نگه داری شدند. نتایج آزمون های طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس نشان داد که غلظت اتمی آهن و کروم در ابتدا با افزایش پتانسیل تا VSCE ۵/۰ افزایش و پس از آن کاهش می یابد. این کاهش، نشان دهنده ی انحلال سطحی کاتیون های آهن و کروم از لایه رویین به درون محلول است. برای دو عنصر آلیاژی نیکل و مولیبدن تغییر آشکاری در غلظت اتمی با افزایش پتانسیل لایه مشاهده نمی شود. نتایج نشان داد که با افزایش پتانسیل و نزدیک شدن به منطقه رویین گذرا، اکسید شدن کاتیون کروم سه ظرفیتی به شش ظرفیتی در لایه رویین اتفاق می افتد.

Keywords:

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) , Passive Film , Potential , Stainless Steel , طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس , لایه رویین , پتانسیل , فولاد زنگ نزن ۳۱۶ کم کربن