بررسی خواص ساختاری و نوری اکسید مس بر اساس محاسبات DFT

در طول دهه های اخیر، مطالعات زیادی در خصوص نیمه هادی ها با پهنای باند گسترده صورت گرفته است، یکی از این نیمه هادی ها اکسید مس است. بر اساس نظریه ی تابع تراکم ، محاسبات اولیه برای بررسی خواص ساختاری و نوری اکسید مس انجام شده و با نتایج تجربی مقایسه شده است. مقادیر محاسبه شده پارامتر شبکه به داده های تجربی بسیار نزدیک است. خواص نوری نشان می دهد که CuO شفاف بوده و دارای شکاف انرژی کوچک و حداکثر بازتاب در منطقه مادون قرمز است. ضریب شکست در منطقه ای با فرکانس پایین بیش تر و در منطقه ای با فرکانس بالا کم تر می شود ، بخش خیالی ضریب شکست (n) در حدود ۲۸ eV به صفر می رسد.

Keywords:

نیمه هادی , اکسید مس , تئوری تابع دانسیته DFT