CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

ریخت شناسی سطحی نانوپوشش های اپوکسی-سیلیکا-ITO

عنوان مقاله: ریخت شناسی سطحی نانوپوشش های اپوکسی-سیلیکا-ITO
شناسه ملی مقاله: NANOB05_016
منتشر شده در پنجمین کنفرانس بین المللی مطالعات میان رشته ای در نانو فناوری در سال 1400
مشخصات نویسندگان مقاله:

مصطفی جعفری - گروه پژوهشی نانوتکنولوژی، معاونت پژوهشی جهاد دانشگاهی فارس، شیراز، ایران

خلاصه مقاله:
در این مطالعه، مورفولوژی سطحی پوشش های نانوکامپوزیتی پلیمری تهیه شده به روش سل-ژل مورد مطالعه و بررسی قرارگرفته است. سل های هیبریدی از طریق هیدرولیز و تراکم پیش ماده های سیلانی ۳-گلیسیدوکسی پروپیل تری متوکسیسیلان (GPTMS) و تترا متیل اورتوسیلیکات (TMOS) در حضور یک اسید به عنوان کاتالیزور و اتیلن دی آمین (EDA)به عنوان عامل پخت تهیه شد. نانوذرات ایندیم قلع اکسید (ITO) با توجه به هدایت الکتریکی مطلوبی که دارند به عنوانعامل ایجاد کننده ی خاصیت ضد الکتریسیته ساکن مورد استفاده قرار گرفت. به منظور بهبود توزیع پذیری و پراکندگینانوذرات ITO در ماتریس پلیمری، سطح نانوذرات با گروه های سیلانی اصلاح شد (m-ITO). مورفولوژی سطح و زبریسطحی پوشش های پلیمری از طریق آزمون های میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)شناسایی شد. با آزمون AFM ماکزیزم فاصله عمودی میان بلندترین و کوتاه ترین نقاط (زبری سطحی) حدود ۲۰ نانومترگزارش شد که تاییدی بر زبری نانومتری سطح پوشش های پلیمری این مطالعه میباشد. شکل مکعبی و سایز نانومترینانوذرات ITO در پوشش های هیبریدی به وسیله میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) به دست آمد.

کلمات کلیدی:
ریخت شناسی سطحی، نانوپوشش، سیلیکا، اپوکسی، AFM

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1457723/