محسن محمدی - دانشجوی دکترا دانشگاه امیرکبیر
سیدحسین صادقی - استاد تمام دانشگاه صنعتی امیرکبیر دانشکده برق
مرتضی کازرونی - دانشیار دانشگاه صنعتی مالک اشتر دانشکده برق و کامپیوتر
عماد حمیدی - استادیار دانشگاه صنعتی مالک اشتر دانشکده برق و کامپیوتر

در این مقاله به بررسی روش اختلال محفظه (CPM ) که روشی متداول برای تعیین مشخصات الکترومغناطیسی مواد در بازه ی فرکانسی مایکروویو می باشد، می پردازیم. این روش بر تغییر در فرکانس رزونانس و ضریب کیفیت محفظه بر اثر دخول نمونه در محل حداکثر میدان الکتریکی یا مغناطیسی، وابسته به طبیعت پارامتری که تحت مطالعه است، استوار است. مهمترین محدودیت این روش آنست که حجم نمونه باید کوچک باشد تا اثر قابل اغماضی در هندسه ی میدان های داخل محفظه نداشته باشد. در این مقاله با ارائه روشی جدید مبتنی بر طراحی موجبر مستطیلی با درپوش متناسب با آن، که محل قرارگیری نمونه می باشد و ساخت دستگاه اندازه گیری مناسب، با حداقل کردن انواع خطاهای اندازه گیری هم چون اندازه گیری با صفحه های سوراخ دار با قطرهای مختلف در ابتدا و انتهای موجبر، استفاده از چسب مایع مناسب برای چسباندن نمونه بر روی درپوش موجبر و ... بیان گردیده است. برای طراحی و ساخت دستگاه اندازه گیری غیر مخرب در باندهای مختلف، ضرایب دی الکتریک و نفوذپذیری مغناطیسی مواد با درصد خطای خیلی پایین ارائه شده است. برای ارزیابی دقت روش پیشنهاد شده، مقادیر ثابت دی الکتریک و نفوذپذیری مغناطیسی چند نمونه اندازه گیری شده با مقادیر واقعی مقایسه شده و درصد خطای این روش پیشنهادی در نهایت به کمتر از ۱.۵ درصد رسیده است.

روش اختلال محفظه, فرکانس رزونانس, اندازه گیری, ثابت دی الکتریک, ضریب نفوذپذیری مغناطیسی