کیخسرو خجیر - استادیار دانشگاه آزاداسلامی واحد چالوس، گروه فیزیک
عباس بهجو - استادیار دانشگاه آزاد اسلامی واحد تنکابن، گروه شیمی

لایه های نازک تیتانیوم با روش تبخیر به وسیله باریکه الکترونی با ضخامت ۷۰ نانومتر تهیه و سپس در دماهای مختلف  K ۵۷۳-۳۰۰ در حضور شار ثابت اکسیژن بازپخت شدند. نانو ساختار و جهت های  کریستالو گرافی با استفاده از آزمایش پراش پرتو-X تحلیل و خواص اپتیکی نمونه ها با استفاده از دستگاه اسپکتروفوتومتر بررسی شد. با بازپخت  نمونه ها نتایج حاصل از XRD شکل گیری جهت کریستالی A(۰۰۴) مربوط به فازآناتاس دی اکسید تیتانیوم را نشان می دهد و این در حالی است که با افزایش دمای بازپخت برشدت این پیک افزوده می شود. همچنین نتایج نشان داد که افزایش دمای بازپخت سبب افزایش اندازه دانه ها و افزایش گاف انرژی در لایه های نازک اکسید تیتانیوم می شود و تاثیر آنن برآن بر خاصیت فتوکاتالیستی این لایه ها درفرایند تجزیه مواد آلی مورد بررسی قرار گرفت.

لایه های نازک, دی اکسید تیتانیوم, گاف انرژی و خاصیت فتوکاتالیستی