Investigations on structural and electrical properties of Cadmium Zinc Sulfide thin films
Publish place: International Journal of Nano Dimension، Vol: 6، Issue: 4
Publish Year: 1394
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: English
View: 135
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_IJND-6-4_012
تاریخ نمایه سازی: 24 تیر 1401
Abstract:
Nowadays, II – IV group semiconductor thin films have attracted considerable attention from the research community because of their wide range of application in the fabrication of solar cells and other opto-electronic devices. Cadmium zinc sulfide (Zn-CdS) thin films were grown by chemical bath deposition (CBD) technique. X-ray diffraction (XRD) is used to analyze the structure and crystallite size and scanning electron microscopy is used to study the morphology of Zn-CdS thin film. Optical studies have been carried out using UV-Visible-NIR transmission spectrum. The dielectric properties of Zn-CdS thin films have been studied in the different frequency at different temperatures. The AC conductivity study shows a normal dielectric behavior with frequency which reveals that the dispersion is due to the interfacial polarization.
Keywords:
Authors
S. Sagadevan
Department of Physics, Sree Sastha Institute of Engineering and Technology, Chembarambakkam, Chennai ۶۰۰۱۲۳, India.
K. Pandurangan
Department of Physics, Madha Engineering College, Kundrathur, Chennai, India.
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :