Investigation of optimum junction depth of InSb Infrared Photodiode

Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,099

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICEE20_502

تاریخ نمایه سازی: 14 مرداد 1391

Abstract:

Junction depth plays an important role in determining reverse saturation current (Is) and the quantum efficiency η of a detector. In order to reduce the Is and increase the η, thethickness of p-type region is made as thin as possible. To evaluate the effect of junction depth on quantum efficiency andreverse saturation current we calculated the efficiency and fabricate InSb PV detector, and the effect of junction depth on performance of this type of detector acquired

Authors

M Asad

Nanotechnology Research Center, Shiraz University

M Ghorbanzadeh

University of Tehran, Electrical Department, Device and Simulation Lab, MEMS and NEMS Lab