مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو XPS) X )وکاربردهای آن
عنوان مقاله: مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو XPS) X )وکاربردهای آن
شناسه ملی مقاله: IMTC03_097
منتشر شده در سومین کنفرانس ملی تجهیزات و فناوری های آزمایشگاهی در سال 1401
شناسه ملی مقاله: IMTC03_097
منتشر شده در سومین کنفرانس ملی تجهیزات و فناوری های آزمایشگاهی در سال 1401
مشخصات نویسندگان مقاله:
فرخ فر ولیزاده هرزند - دانشگاه محقق اردبیلی
علی نعمت اله زاده - دانشگاه محقق اردبیلی
خلاصه مقاله:
فرخ فر ولیزاده هرزند - دانشگاه محقق اردبیلی
علی نعمت اله زاده - دانشگاه محقق اردبیلی
طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X به یکی از پرکاربردترین تکنیکهای آنالیز سطح تبدیل شده است. XPS یا طیف سنجی الکترونی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی با قابلیت به دست آوردن ترکیب عنصری کمی، حالت شیمیایی و اطلاعات ضخامت لایه پوششی از بالای ۱۰ نانومتر از سطح نمونه، یک روش همهکاره و گسترده است. در این مقاله مروری، اصول اولیه این تکنیک از جمله اثر فوتوالکتریک، چگونگی برهمکنش الکترونها با ماده، عوامل موثر در این تکنیک مانند آلودگی سطحی، و اثر محیط شیمیایی اطراف یک عنصر بر انرژی اتصال الکترونهای خود ارائه شده است. همچنین کاردبردها و روشکار این تکنیک مورد بحث قرار گرفته است.
کلمات کلیدی: طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X؛ الکترون اوژه؛ آنالیز عنصری؛ پرتو X
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1549759/