محاسبه ضخامت لایه رویین و ضریب نفوذ دهنده های الکترونی با استفاده از مدل عیوب نقطه ای
Publish place: The fourth joint conference of the Association of Metallurgical Engineers and the Iranian Foundry Association
Publish Year: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,321
This Paper With 10 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IMES04_009
تاریخ نمایه سازی: 22 مرداد 1391
Abstract:
امروزه کاربرد فولادهای زنگ نزن در صنایع مختلف ، به واسطه تشکیل لایه رویین و ایجاد مقاومت به خوردگی عالی ، بسیار گسترش یافته است. واضح است که محاسبه ضخامت لایه رویین ، که پارامتری تاثیر گذار بر پایداری آن است ، بسیار مهم می باشد. در این میان ، طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی یکی از بهترین روش ها برای محاسبه ضخامت لایه رویین است. از این رو در این تحقیق ، ضخامت لایه رویین تشکیل شده بر روی فولاد زنگ نزن 316L با استفاده از این روش محاسبه شد. برای این منظور ، ابتدا با استفاده از منحنی های نایکویست ، ظرفیت خازنی در فرکانس 1KHz اندازه گیری و سپس با جایگزینی این مقادیر در معادلات مربوطه ، ضخامت لایه رویین در هر پتانسیل محاسبه شد. نتایج نشان داد که افزایش پتانسیل در محدوده 0/2- تا 0/8VSCE ، ضخامت لایه رویین به طور خطی از 3/9 تا 8/4 آنگستروم افزایش می یابد که مطابق با پیش بینی مدل عیوب نقطه ای است. همچنین با استفاده از مدل عیوب نقطه ای مقدار ضریب نفوذ دهنده های الکترونی در لایه رویین (فرمول در متن اصلی مقاله) به دست آمد.
Keywords:
مدل عیوب نقطه ای , فولاد زنگ نزن 316L , طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی
Authors
آرش فتاح الحسینی
استادیار ، دانشگاه بوعلی سینا همدان
محمد علی گلعذار
استاد ، دانشگاه صنعتی اصفهان
احمد ساعتچی
استاد ، دانشگاه صنعتی اصفهان
کیوان رئیسی
دانشیار ، دانشگاه صنعتی اصفهان
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :