نهان نگاری تهی و نیمه شکننده با استفاده از SVD در حوزه تبدیل ویولت برای اثبات سندیت تصویر دیجیتال

در این مقاله، یک الگوریتم نهان نگاری تهی و نیمه شکننده برای اثبات سندیت تصاویر دیجیتال، براساس تبدیل تجزیه مقادیر منفرد (SVD) در حوزه ویولت ارائه شده است. برخلاف تکنیک های رایج نهان نگاری بدون اتلاف، در این روش نهان نگاره در تصویر میزبان جایگذاری نمی شود و تنها به استخراج ویژگی از تصویر اصلی پرداخته می شود. همین امر سبب شده تا با مسئله افت کیفیت تصویر به بهای نهان نگاری کردن آن، مواجه نباشیم. در تکنیک ارائه شده در این مقاله، تصویر به حوزه ویولت منتقل شده و سپس به بلوک های بدون هم پوشانی تقسیم می شود. از هر بلوک تبدیل SVD گرفته شده و با مقایسه ضرایب متناظر تبدیل SVD در دو زیرباند فرکانسی، نهان نگاره تولید می شود. استفاده از ضرایب تبدیل SVD در حوزه ویولت، خاصیت نیمه شکنندگی را برای این الگوریتم بدون اتلاف به همراه داشته است. این ویژگی سبب شده تا استخراج نهان نگاره برای حالاتی که تصویر ثابت مانده و یا تحت حملات ضعیف قرارمی گیرد تقریباً بدون خطا صورت گیرد و با شدید شدن میزان حملات، خطا به یکباره افزایش یابد. ثابت ماندن میزان خطا در برابر افزایش شدت حملات از مقدار معینی به بعد، امکان معرفی یک سطح آستانه را فراهم کرده است. نتایج آزمایش ها نشان می دهد که به کمک این سطح آستانه، نسبت به سایر الگوریتم های تهی مقاوم موجود، که قادر به تشخیص شدت حملات وارده نیستد، امکان تشخیص شدت حملات و در نتیجه امکان احراز سندیت تصویر فراهم شده است.

Keywords:

نهان نگاری برگشت پذیر , نهان نگاری نیمه شکننده , نهان نگاری تهی , تجزیه مقادیر منفرد (SVD) , تبدیل ویولت