Nanoscale Design Take on Test Access Problems
Publish place: 2nd International Congress on Nanoscience and Nanotechnology
Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 713
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICNN02_401
تاریخ نمایه سازی: 27 شهریور 1391
Abstract:
The silicon-scaling revolution is quite real and persistent. The bizarre vagaries of nanoscale technologies put a heavy burden on the test community, as scaling beyond 45 nanometers greatly extends process complexity and exacerbates leakage faults and soft errors. So, a test engineer faces serious test accessibility problems.This paper presents test access problems in nanoscale designs and introduces the future tendencies in this area. The sequel of this paper is as follows: The nanoscale design and test requirements have been introduced, then, test accessibility problems and the future trends in nanoscale designs have been presented. The paper is concluded in the final section.
Authors
R Niaraki Asli
Department of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, University of Guilan P. O. Box: ۳۷۵۶
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :