محمد یونسی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد آمل
مرتضی ایزدی فرد - دانشگاه صنعتی شاهرود
محمد ابراهیم قاضی - دانشگاه صنعتی شاهرود
فرهاد اسماعیلی قدسی - دانشگاه گیلان

لایه­های نازکZn۰.۹۷TM۰.۰۳O (TM = Co, Fe)  روی زیر لایه­های شیشه­ای با روش سل-ژل رشد داده شدند و اثرات جاینشانی فلزات واسطه بر روی خواص ساختاری و اپتیکی لایه­های ZnO مورد بررسی قرار گرفت. طیف­های حاصل از پراش پرتو X از نمونه­ها نشان داد که تمام لایه­ها دارای ساختار ورتسایت می­باشند. طیف تراگسیل نوری در بازه طول موجی ۲۰۰-۸۰۰ نانو متر برای نمونه­ها ثبت گردید و با استفاده از آن گاف نواری لایه­ها محاسبه گردید. لبه جذب لایه­ها بسته به نوع عناصر جاینشانی شده، یک جابجایی کوچک را نشان داد. ثابت­های نوری لایه­ها با استفاده از روش کمینه سازی غیر مقید نقاط محاسبه گردید.

Thin film, Sol-gel method, Optical properties, Band gap, لایه نازک؛ روش سل-ژل؛ خواص اپتیکی؛ گاف نواری.