امیر شاطری - فارغ التحصیل مقطع کارشناسی پیوسته مهندسی برق موسسه آموزش عالی آپادانا شیراز

این تحقیق و مقاله مطالعه ای دقیق و موثر بر تخریب لامپ های مقاوم سازی شده بر اساس دیودهای گسیل نور سفید GaN را توصیف می کند. نتایج این تحقیق و مطالعه نشان می دهد که طول عمر لامپ های LED بیشتر به پایداری درایور و عناصر نوری بستگی دارد، نه به تخریب تراشه های LED، که خروجی پایداری در زمان تنش دارند. با مقایسه لامپ های چهار تولید کننده مختلف که در دمای اتاق و دمای بالا استرس داشتند، می توان متوجه شد که: ۱-تنش طولانی مدت باعث تغییر خواص رنگی لامپ ها می شود که به تخریب فسفرها یا بازتابنده LED داخلی نسبت داده می شود. ۲-در طول کهنه شدن، درایور LED ممکن است به تدریج و/یا به طور فاجعه بار تخریب شود و باعث کاهش توان نوری خروجی یا خرابی کامل شود. ۳-مدیریت حرارتی مناسب و اتلاف گرما میزان تخریب را کاهش می دهد. ۴-اندازه گیری های انتقال طیفی و بازرسی بصری، تخریب عناصر نوری پراکنده را نشان می دهند که توسط سمت طول موج کوتاه طیف انتشار LED ایجاد می شود.

قابلیت اطمینان، لامپ های کم مصرف LED مقاوم سازی شده، لامپ انتشاری، فسفر، درایور LED