مدل سازی مشخصات I-V ترانزیستور GaN ۱۵۰ HEMT در دمای بالا با استفاده از روش یادگیری فعال فازی
Publish Year: 1402
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 122
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
MECHCNF01_004
تاریخ نمایه سازی: 24 مهر 1402
Abstract:
در این مقاله یک مدل سازی غیر خطی در دمای بالا را برای ویژگی های I-V ترانزیستور GaN ۱۵۰ HEMT مطرح می کنیم. مشخصاتI-V ترانزیستور تشکیل یک مجموعه داده را میدهند که مدل سازی می شوند. مدل سازی دادهها در رنج دمایی ۲۵ تا ۴۰۰ درجهسانتیگراد با استفاده از الگوریتم فازی، روش یادگیری فعال (ALM) انجام میشود. آزمایشات روی یک دستگاه GaN ۱۵۰ با عرض۴۰ میکرو متر صورت گرفته است و به همین ترتیب مجموعه ای از اندازه گیری ها برای ساخت مدل دستگاه بدست آمده و مورد بهرهبرداری قرار گرفته اند. روش مورد نظر برای مدل سازی با استفاده از توانایی آن در پیش بینی ویژگی های I-V در دمای گفته شده ومحاسبه پارامترهای خطا ،ارزیابی شده است. نتایج بدست آمده نشان میدهد که مدل ویژگی های دستگاه را بر اساس محاسبه یپارامترهای خطا، درست پیش بینی می کند.
Keywords:
Authors
حیدر نبی
دانشجوی کارشناسی مهندسی کامپیوتر گرایش سخت افزار، گروه مهندسی کامپیوتر، دانشگاه صنعتی کرمانشاه، کرمانشاه
محمد جوادیان
استادیار، گروه مهندسی کامپیوتر، دانشگاه صنعتی کرمانشاه، کرمانشاه