نانوساختارهای بی نظم سیلیکون: جایگزیدگی و گاف انرژی
عنوان مقاله: نانوساختارهای بی نظم سیلیکون: جایگزیدگی و گاف انرژی
شناسه ملی مقاله: JR_PSI-13-3_010
منتشر شده در در سال 1392
شناسه ملی مقاله: JR_PSI-13-3_010
منتشر شده در در سال 1392
مشخصات نویسندگان مقاله:
- زهرا نوربخش - دانشگاه صنعتی اصفهان
- مارک لاسک - دانشگاه صنعتی اصفهان
- سیدجواد هاشمی فر - کلرادو اسکول آو ماینز
- هادی اکبرزاده - دانشگاه صنعتی اصفهان
خلاصه مقاله:
- زهرا نوربخش - دانشگاه صنعتی اصفهان
- مارک لاسک - دانشگاه صنعتی اصفهان
- سیدجواد هاشمی فر - کلرادو اسکول آو ماینز
- هادی اکبرزاده - دانشگاه صنعتی اصفهان
در این مقاله با استفاده از نظریه تابعی چگالی حالت های جایگزیده در ناحیه گاف انرژی نانوساختارهای بی نظم سیلیکون مورد بررسی و محاسبه قرار گرفته است. همچنین اهمیت اثر واهلش مکان اتم ها در تغییر گاف انرژی نشان داده شده است. با حذف ۲% از اتم های سیلیکون با پیوندهای ضعیف و اضافه کردن هیدروژن به منظور از بین بردن پیوندهای آویزان، موفق به حذف این جایگزیدگی ها و افزایش گاف انرژی a-Si شدیم. میزان افزایش گاف در ازای هر درصد هیدروژن اضافه شده، برابر با حاصل شده است که با سایر نتایج نظری موجود در توافق است.
کلمات کلیدی: نظریه تابعی چگالی, ساختارهای بی نظم, جایگزیدگی, سیلیکون, گاف انرژی, چگالی حالت ها
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1802399/