تهیه و مطالعه خواص ساختاری، اپتیکی، الکتریکی لایه های نازک نانوساختار سولفید قلع Sn xSy به روش اسپری پایرولیزیز

فیلم های نازک سولفید قلع Sn xSy در تراکم های وزنی مختلف گوگرد به قلع به روش اسپری پایرولیزیز تهیه شدند. نسبت وزنی گوگرد به قلع ( y/x) بین 0 تا 1 با گام های 0.2 تغییر کرد، و سایر پارامترهای لایه نشانی ثابت باقی ماند. پراش پرتو XRD) X ساختار تتراگونال را برای فیلم های SnO2 و ساختار بس بلوری با صفحه ترجیحی ( 001 ) فاز برندتایت سولفید قلع را برای فیلم های با نسبت وزنی گوگرد ب قلع y/x) بیشتر از 0.4 نشان داده اند. آنالیز میکروسکوپ روبشی الکترون نشان می دهد فیلم ها به شکل نانوساختار رشد یافته اند ،و محاسبات فرمول شرر از الگوی پراش پرتو X اندازه متوسط دانه ای 10 نانومتر را به دست می دهد. پاسخ ترموالکتریکی با استفاده از اثر سیبک بر حسب تغییر دما یک رفتار غیر خطی را نشان می دهد، و ثابت سیبک با محاسبه شیب آن در گستره دمایی 323 تا 743 کلوین به دست آمد است. اندازه گیری های ترموالکتریکی نشان داده است فیلم های رشدیافته با نسبت وزنی گوگرد به قلع کمتر از 0.6 دلیل منفی بودن ثابت ترموالکتریک نوع n هستند، و در سایرنسبت ها فیلم ها رسانش نوع p ا به دلیل مثبت بودن ثابت ترموالکتریک نشان دادند.گاف انرژی فیلم های Sn xSy از 1.43 تا 1.52 با نسبت وزنی گوگرد به قلع در گستره 0 تا افزایش یافت. طیفهای عبور و جذب اپتیکی (UV-Vis) لایه ها برای تعیین خواص اپتیکی تهیه شد.