در این پژوهش، ابتدا لایه های نازک نیکل به روش RF اسپاترینگ بر روی زیرلایه لام آزمایشگاهی تشکیل گردید و سپس لایه های اسپاتر شده، در دماهای مختلف در محیط اکسیژن پخت شدند. تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) نوع ساختار را به صورت  نانومیله های به قطر ۳۵  نانومتر نشان  می دهند. با بررسی خواص اپتیکی، محدوده گاف انرژی بینeV ۸۷/۳-۷۷/۳ مشخص شده؛ همچنین زاویه تماس آب با سطح نمونه های پخت نشده، در حدودº۱۱۰ وبرای نمونه های  پخت شده در دماهای مختلف از حالت آب گریزی به حالت آب دوستی  تغییر نمودند. تصاویر میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) نشان می دهد که در دمایC °۵۰۰، میانگین مربع زبری سطح (RMS)، نمونه پخت شده حدود   nm۹می باشد.

اسپاترینگ, آب دوستی, کشش سطحی, انرژی گاف