Investigation of four phase semiconductor layer Ni/MgF2/glass producted by PVD method
Publish place: First Iranian Conference on Nano Electronics
Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,394
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICNE01_047
تاریخ نمایه سازی: 10 اردیبهشت 1392
Abstract:
According to the increasing advancement of nanotechnology and ample use of nanostructure layers in various fields like optic pieces, photic devices, solar cells, and biological drugs; manufacturing better and morecommodious layers seems necessary. In this survey, aluminum has been layered and deposited on silver nitrateon glass using PVD method. Atomic force microscope (AFM),X-ray diffraction( XRD), and Scanning electronmicroscope( SEM) analyses, and spectrophotometery were derived from this multi-layer, and through these analyses, the structure of the surface and the morphology of theses layers were studied.
Keywords:
Authors
S Gharanizade
Faculty of sciences,Islamic Azad university,Urmia Branch,Urmia, Iran
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :