راهبه نیارکی اصلی - استادیار،دانشگاه گیلان
شاهین خدادادی - دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی برق
پیام حبیبی - دانشکده فنی دانشگاه گیلان

با پیشرفت تکنولوژی مداراتVLSI و کاهش ابعاد مدارهای الکترونیکی شاهد افزایش میزان نقص ها درحافظه های جاسازی شده هستیم دراین راستا تحقیقات زیادی برای طراحی مدارهای تعمیر درون ساخته صورت گرفته تا ازکاهش بهره دهی و قابلیت اطمینان ادوات جلوگیری شود دراین مقاله قصد داریم به ارایه یک الگوریتم بهینه برای تعمیر حافظه های کلمه گرا بپردازیم درالگوریتم پیشنهادی ضمن استفده ازروش موازی برای بالا نگهداشتن سرعت تحلیل سطح مصرفی مدار به میزان قابل توجهی کاهش یافته است نرخ تعمیر این الگوریتم نیز به دلیل استفاده ازدرخت جستجوی دودویی همواهر بهینه می باشد شبیه سازی های انجام شده و مقایسه ی نتایج بدست امده ازاین روش با سایرروشها کارایی الگوریتم ارایه شده را نشان میدهد

تحلیل گرافزونه ی درون ساخته،خودتعمیری درون ساخته، حافظه های کلمه گرا، CRESTA