ترانزیستورهای MOS در مقیاس نانو : مقایسه مشخصههای الکتریکی ترانزیستورهای SOI DOUBLE GATE MOSFET و Fully Depleted MOSFET
عنوان مقاله: ترانزیستورهای MOS در مقیاس نانو : مقایسه مشخصههای الکتریکی ترانزیستورهای SOI DOUBLE GATE MOSFET و Fully Depleted MOSFET
شناسه ملی مقاله: IPC85_142
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1385 در سال 1385
شناسه ملی مقاله: IPC85_142
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1385 در سال 1385
مشخصات نویسندگان مقاله:
مرتضی فتحی پور - گروه برق و کامپیوتر دانشگاه تهران
زهرا آهنگری - دانشکده فنی
خلاصه مقاله:
مرتضی فتحی پور - گروه برق و کامپیوتر دانشگاه تهران
زهرا آهنگری - دانشکده فنی
این مقاله دو ساختار همارز Fully Depleted Silicon On Insulator MOSFET (SOI MOSFET) و Double Gate MOSFET (DG MOSFET) مورد بررسی و شبیهسازی قرار گرفتهاندساختار DGMOSFET دارای Ioff کمتری نسبت به ساختار SOI میباشد . نسبت Ion/Ioff در ساختار DG بالاتر از ساختار SOI میباشد . اثر کاهش سد پتانسیل القا شده از درین (DIBL) در SOI MOSFET شدیدتر از DG MOSFET ساختاراست . DG` دارای قابلیت حرکت بالاتری نسبت به ساختار SOI میباشد
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/24787/