مطالعه ترکیب شیمیایی و خواص مکانیکی لایه های نازک اکسید زیرکونیم به صورت تابعی از فشار گاز اکسیژن

Publish Year: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 664

This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

NANOO01_116

تاریخ نمایه سازی: 9 تیر 1393

Abstract:

اکسید زیر کونیوم به واسطه خواص برجسته ای نظیر سختی بالا مقاومت به خوردگی و سایش مناسب و مقاومت شیمیایی قابل قبول در هر دو حالت کپه ای و لایه نازک از مواد پرکاربرد در صنعت و فناوری است این تحقیق به مطالعه نانو ساختار ترکیب شیمیایی و خواص مکانیکی لایه های نازک اکسید زیرکونیوم تهیه شده به روش کندوپاش واکنشی مغناطیسی DC ( به ضخامت 300nm) بر روی لایه های سیلیکون در فشارهای مختلف گاز اکسیژن (3-15 sccm ) می پردازد نتایج نشان داد که افزایش فشار گاز اکسیژن تا 9sccm سبب بهبود سختی نمونه ها شده در حالیکه پس از آن افزایش فشار گاز اکسیژن اثر معکوس در سختی نمونه ها را دارد تحلیل های ساختاری نشان داد که این رفتار به واسطه تغییرات در آهنگ انباشت ناشی از تغییرات میزان اکسیژن در محفظه به هنگام لایه نشانی بود بررسی های مکانیکی همچنین نشان داد که مدول الاستیک لایه ها با افزایش فشار گاز اکسیژن رابطه ای عکس دارد مطالعه ترکیب شیمیایی نمونه ها که با آنالیز EDAX انجام شده ثابت کرد که این رابطه معکوس به خاطر افزایش میزان اکسیژن در ساختار لایه ها است.

Authors

فاطمه محبوبی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکز،دانشکده علوم ، گروه فیزیک

کیخسرو خجیر

دانشگاه آزاد اسلامی واحد چالوس ، گروه فیزیک

ناصر زارع دهنوی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد چالوس ، گروه فیزیک

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • اولین مهابثل _ _ _ محل برگزاری: همدان دانشکده شهید ...
  • S. Venkataraj, O. Kappertz, H. Weis, R. Drese, R. Jayavel, ...
  • G.M. Raoa, K.P.S.S. Hembram, G. Dutta, U.V. Waghmare, (2007), Electrical ...
  • P. Tyagi, A.G. Vedeshwar, (2002), Effect of residual stress on ...
  • K.W. Xu, S. Zhao, F. Ma, H.F. Liang, (2008), Optical ...
  • D.H. Kuo, C.H. Chien, (2003), Growth and properties of sputtered ...
  • F.J. Ferrer, F. Frutos, J. Garcia-Lopez J, A.R. G onzalez-Elipe, ...
  • A.P. Huang, P.K. Chu, (2005), _ structural improvement of sputtered ...
  • L.F. Cueto, E. Sanchez, L.M. T _ rres-Martinez, G.A. Hirata, ...
  • B.J. Lee, H.L. Sohn, Y.T. Cho, (2007), The effect of ...
  • L.D. Huy, P. Laffez, P. Daniel, A. Jouanneaux, N.T. Khoi, ...
  • _ Vrejoiu, D.G. Matei, M. Morar, G. Epurescu, A. Ferrari, ...
  • W.C. Liu, D. Wu, A.D. Li, H.Q. Ling, Y.F. Tang, ...
  • G. Ehrhart, B. Capoen, O. Robbe, P. Boy, S. Turrell, ...
  • J.F. Zhu, Y.G. Gao, L.A. Zhang, Y.H. Pan, G.D. Wang, ...
  • V. Nirupama, K.R. Gunasekhar, B. Sreedhar, S. Uthanna, (2010), Effect ...
  • S.V.J. Chandra, S. Uthanna, G. Mohan Rao, (2008), Effect of ...
  • J. Heller, (1973), Reactive sputtering of metal oxidizing atmosphere, Thin ...
  • _ Khojier, H. Savaloni, Z. Ashkabusi, N.Z. Dehnavi, (2013), Structural, ...
  • H. Savaloni, M.A. Player, (1995), Influence of deposition conditions and ...
  • نمایش کامل مراجع