تحلیل داده های با ابعاد بالا با تعداد نمونه آموزشی محدود با کرنل های مولد و کرنل های توأم ورودی - خروجی
Publish place: 1st National Innovation Conference on Computer Engineering and Information Technology
Publish Year: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 910
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CEIT01_503
تاریخ نمایه سازی: 9 تیر 1393
Abstract:
این مقاله توسعه ریاضی روش های کرنل در طبقه بندی تصاویر ابرطیفی، معکوس مدل و استخراج ویژگی های داده های با ابعاد بالا را ارائه می دهد. بعد از بیان ویژگی های اصلی روش های کرنل به توسعه روش های کرنل به واسطه ویژگی های خاص از جبر خطی و آنالیز ریاضی در کاربری طبقه بندی تصاویر سنجش از دور با ابعاد بالا و تعداد نمونه آموزشی توجه کرده ایم. در واقع در این مقاله کرنل های مولد و کرنل های توأم ورودی خروجی به داده های ابرطیفی گسترش و پیشنهاد شده است، علاوه بر بردارهای پشتیبان ماشین، V-SVM بردار پشتیبان توصیف داده SVDD میز فشیر KFD مبتنی بر کرنل های پیشنهادی توسعه داده شده اند و با مجموعه داده های استاندارد Indiana پیاده سازی گردیده است .
Keywords:
کرنل , طبقه بندی , تصاویر ابرطیفی , سنجش از راه دور , بردار پشتیبان ماشین , نمونه آموزشی محدود , کرنل مولد , کرنل توأم ورودی - خروجی
Authors
مصطفی برهانی
دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه تربیت مدرس، تهران
محمد حسن قاسمیان یزدی
دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه تربیت مدرس، تهران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :