XCSRبا استفاده از داده های تربیتی محدود :مطالعه موردی جهت تشخیص خطا در مدارات آنالوگ
Publish Year: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 529
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
TIAU01_642
تاریخ نمایه سازی: 14 شهریور 1393
Abstract:
پیشرفت روز افزون علم الکترونیک همواره و صنعت مدارهای آنالوگ و دیجیتال باعث تولید مدراتی با وظیفه مندیهای پیچیده شده است، افزایش قابلیت اطمینان و اتکا پذیری این سیستمها ، همچنین بحث تست وتشخیص صحیح عیب و رفع عیب این گونه مدارات به موضوعی بسیار مهم وحیاتی مبدل گردیده آزمایش مرحله به مرحله مدارات در طی فرآیند ساخت و قبل از فروش آن و رسیدن به دست مصرف کننده به عنوان یکی ازتکنیک های افزایش قابلیت اطمینان مطرح می شود.بنابراین بهترین روش تولید الگویی از خطا ها می باشد و ازآنجاییکه سیستم طبقه بندیXCS که به عنوان یکی از موفق ترین عامل های یادگیرنده برای حل مسائل (Learning Agents)شناخته شده است،در این مقاله با استفاده از سیستم طبقه بندیXCS و سایر الگوریتم های یادگیری مبتنی بر نمونه به تشخیص خطا در مدارات آنالوگ و به عنوان نمونه یک مبدل آنالوگ به دیجیتالADC می پردازیم. کارایی روش های مزبور نیز از طریق مقایسه نتایج (در مورد مسئله معیار) موردارزیابی قرار می گیرد.
Keywords:
Authors
ن مشتاقی یزدانی
دانشجوی کارشناسی ارشد مکاترونیک، دانشگاه تهران
م شریعت پناهی
دانشیار دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه تهران.
آ یزدانی سقرلو
دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی کامپیوتر – نرم افزار، دانشگاه تهران