مقایسه خواص پوشش های نانوساختار TiN و TiAlN

Publish Year: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 898

This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

NANOG01_067

تاریخ نمایه سازی: 12 دی 1393

Abstract:

در این مطالعه تجربی, پوشش های نانوساختارتیتانیوم آلومینیوم نیتراید (TiAlN ) و تیتانیوم نیتراید (TiN) با استفاده از دستگاه پلاسما فوکوس کم انرژی تهیه شده و خواص ساختاری پوشش ها با یکدیگر مقایسه می شوند. سنتز نانوذرات TiAlN و TiN روی استیل ضد زنگ تحت زاویه صفر درجه نسبت به محور آند و در فاصله 4 سانتی متری از بالای آند انجام گرفت. نتایج پراش اشعه ایکس نشان می دهد که شدت نسبی پراش اشعه ایکس TiAlN در مقایسه با TiN کاهش می یابد. نتایج میکروسکوپ الکترونی نشان می دهد که اندازه دانه های پوشش TiAlN درشت تر از اندازه دانه در پوشش TiN می باشد. با توجه به تصاویر میکروسکوپ نیروی اتمی, ضخامت میانگین پوشش TiAlN بالاتر از پوشش TiN می باشد.

Authors

اسلام قره شعبانی

دانشکده علوم پایه دانشگاه صنعتی سهند تبریز, تبریز

حسن انوشا

دانشکده علوم پایه دانشگاه صنعتی سهند تبریز, تبریز

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • کفرا نس علوم و فناوری _ نانو The Conference _ ...
  • کفرا نس علوم و فناوری _ نانو The Conference _ ...
  • G.T. Liu, J.G. Duh, K.H. Chung, J.H. Wang, (2005), Mechanical ...
  • _ W.D. Munz, (1986), Titanium aluminum nitride films: A _ ...
  • Tousif Hussain, Riaz Ahmad, Jamil Siddiqui and Nida Khalid, (2011), ...
  • synthesized using a dense plasma focus system and varied focus ...
  • S. PalDey, S.C. Deevi, Single layer and multilayer wear resistat ...
  • P.W. Shum, W.C. Tam, K.Y. Li, Z.F. Zhou, Y.G. Shen, ...
  • J. Wagner, V. Edlmayr, M. Penoy, C. Michotte, C.Mitterer, M. ...
  • G. Kim, S. Lee, J. Hahn, (2002), Effects of the ...
  • M. T . Hosseinnejad, Z. Ghorannevis, M. Soltanveisi, M. Shirazi, ...
  • R. S. Rawat, P. Lee, T. White, L. Ying, (2001), ...
  • A .Wagendristel & Y.Wang, _ Introduction of Physics and Technology ...
  • نمایش کامل مراجع