CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی تاثیر تغییرات ضخامت و ثابت دی الکتریک عایق گیت در نسبت جریان روشن به خاموش ترانزیستورهای SB-CNTFET

عنوان مقاله: بررسی تاثیر تغییرات ضخامت و ثابت دی الکتریک عایق گیت در نسبت جریان روشن به خاموش ترانزیستورهای SB-CNTFET
شناسه ملی مقاله: NAEC02_011
منتشر شده در دومین کنفرانس دستاوردهای نوین در مهندسی برق و کامپیوتر در سال 1393
مشخصات نویسندگان مقاله:

امین قاسمی نژاد رائینی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات سیرجان گروه مهندسی برق- الکترونیک سیرجان
مهران ابدالی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات سیرجان گروه مهندسی برق- الکترونیک سیرجان

خلاصه مقاله:
در این مقاله ابتدا به بررسی و شبیه سازی ترانزیستورهای نانولوله کربنی با پیوند شاتکی پرداخته شده است و سپس تغییرات نسبت جریان روشن به خاموش این ترانزیستورها نسبت به تغییرات ضخامت عایق گیت و همچنین تغییرات نوع عایق گیت (ضرایب دی الکتریک متفاوت) بررسی و شبیه سازی شده است در شبیه سازی ها از یک نانولوله کربنی با اتصالات شاتکی سورس و درین و بردار کایرال (13.0) استفاده شده است. در انتها با استفاده نمودارها مشاهده خواهد شد که کاهش ضخامت عایق گیت سبب افزایش نسبت جریان روشن به خاموش خواهد شد همچنین استفاده از مواد با ضرایب دی الکتریک بالا نسبت نسبت جریان روشن به خاموش را افزایش داد.

کلمات کلیدی:
نانولوله کربنی، عایق گیت، پیوند شاتکی، SB-CNTFET

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/332144/