علی اصغر سعادت زاده - دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی برق- الکترونیک، دانشگاه کاشان
حسین کریمیان علی داش - استادیار گروه مهندسی برق- الکترونیک، دانشگاه کاشان

امروزه با کاهش مقیاس تراشه ها به مقادیر نانومتری، حساسیت مدارهای دیجیتال نسبت به اشکالات تک رخدادی و چندرخدادی افزایش پیدا کرده است. این رخدادها، چالش جدی برای قابلیت اطمینان سیستم ها به شمار می روند. بنابراین طراحی سیستم های تحمل پذیر خطای نرم، از اهمیت ویژه ای برخوردار است. در این مقاله، یک لچ مقاوم در برابر خطای نرم ناشی از برخورد ذرات پرانرژی به سطح تراشه، جهت کاربرد در مدارهای با قابلیت اطمینان بالا، معرفی می گردد. اساس روش پیشنهادی، استفاده از فیدبک های چندگانه به هنگام قرارگیری لچ در وضعیت نگهداری از داده است. شبیه سازی های انجام شده با نرم افزار HSPICE در تکنولوژی 65 نانومتر نشان می دهد، ساختار پیشنهادی قادر به حذف اثرات تک رخداد و نیز چندرخداد واژگونی بوده و در مقایسه با سایر مدارات مشابه، حداقل دارای کاهش حدود 57 درصدی پارامترهای تأخیر و توان مصرفی می باشد

ذره آلفا، ذره نوترون، قابلیت اطمینان، لچ، مدارهای دیجیتال مقاوم در برابر خطای نرم