CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

اثر کاهش سد درین در ماسفت های گالیم نیتراد

عنوان مقاله: اثر کاهش سد درین در ماسفت های گالیم نیتراد
شناسه ملی مقاله: IAUFASA02_002
منتشر شده در دومین همایش ملی فناوری های نوین در مهندسی برق و کامپیوتر در سال 1393
مشخصات نویسندگان مقاله:

احمدرضا رمضانپور - دانشجوی کارشناسی ارشد الکترونیک ، دانشگاه آزاد اسلامی واحد فسا،فسا ، ایران
محسن معصومی - عضو هیت علمی گروه برق و الکترونیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد جهرم، جهرم، ایران

خلاصه مقاله:
در این مقاله یک مدل تحلیلی از ماسفت گالیم نیتراید برای تعیین رفتارDIBLتوسعه داده شده است. این مدل تحلیلی ، ولتاژ آستانه را برای قطعه کانال کوتاه ، به نسبتL/a ترکیب می کند. به درین، ولتاژVDS را اعمال کرده وnd تشکیل می گردد که پایه ای برای طراحی مدار و قطعات کانال کوتاه می باشد. این مدل، همچنین شامل معادله پوازون 4 می باشد تا به دقت ناحیه الکتریکی در قسمت درین و اثرات diblراتعریف کند مدل DIBL درقطعات MOS برای درک اثرDIBL دستگاه های CMOS کانال کوتاه توسعه داده شده است تا کنون هیچ مدل تئوری برای ماسفت های با شکاف انرژی بزرگتر ارائه نشده است. این مدل تحلیلی، برای توسعه قطعاتMOSFETوMESFETدر مقیاس های نانو، در آینده مفید است.

کلمات کلیدی:
ماسفت ، گالیم نیتراید ، کاهش سد درین،قطعات کانال کوتاه ، DIBL

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/337446/