مقایسه خواص ساختاری بس لایه های الکتروانباشت شده Co-Cu/Cu بر روی زیر لایه های Cu , Ti

Publish Year: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 2,328

This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

SCMI14_032

تاریخ نمایه سازی: 29 تیر 1386

Abstract:

در این تحقیق بس لایه های Co-Cu/Cu به روش الکتروانباشت بر ری پلی کریستال Ti, Cu تهیه شدند. الکتروانباشت به صورت پتانسیواستات و در یک الکترولیت تک حمام حاوی نمک های سولفات Co , Cu با سه الکترود انجام شد. ریز ساختار این بس لایه ها توسط طیف XRD موردمطالعه قرار گرفت و در پایان با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی خواص سطحی نمونه های ساخته شده بر دو نوع زیر لایه Cu , Ti مورد بررسی و مطالعه قرار می گیرد.

Authors

ایرج کاظمی نژاد

دانشگاه شهید چمران اهواز، دانشکده علوم، گروه فیزیک

مرجان ذاکرین

دانشگاه شهید چمران اهواز، دانشکده علوم، گروه فیزیک

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • E. Gomez, A. Llorente, E. Vallez, Journal of E lectroanalytical ...
  • l. Kazeminezhad, H. J. Blythe, and W. Schwarzacher, Applied Physics ...
  • Q.X. Liu, L. Peter, _ Toth, L.F. Kiss, A. Cziraki, ...
  • Cziraki, L. Peter, V. Weihnacht, J. Toth, E. Simon, J. ...
  • C. Michaelsen, Philosophical Magazine A, 1995, Vol_. 72, N. 3, ...
  • نمایش کامل مراجع