اندازه گیری بازده به مقیاس بابکارگیری شرایط مکمل زائد قوی درمدلهای غیرشعاعی تحلیل پوششی داده ها

Publish Year: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 568

This Paper With 11 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

MATHPHY02_115

تاریخ نمایه سازی: 30 شهریور 1394

Abstract:

در تحلیل پوششی داده ها، بعضی روش هایی که برای اندازه گیری بازده به مقیاس یا (Scale Returns To ) RTS بکار می روند به کمک مدل های غیرشعاعی ارائه می شوند که بر اساس شرایط مکمل زائد قوی از قضیه بهینه سازی، پایه گذاری شده اند اما باعث افزایش پیچیدگی محاسباتی و یا موجب تناقض با قضیه بهینه سازی می شوند. در این مقاله، روشی مستقیم برای اندازه گیری RTS در مدل های غیرشعاعی پیشنهاد شده است. برای تعیین نوع RTS مجموعه نقاط بهینه، باید نقطه درونی روی کوچکترین رویه 3 که شامل مجموعه جوابهای بهینه مسأله پرایمال است، بدست آید سپس نوع RTS این نقطه مشخص گردد. در این روش RTS در نقاط تصویر مدل های غیرشعاعی، نقطه درونی نسبی از یک رویه همان RTS را دارد که همه دیگر نقاط درونی این رویه دارند

Keywords:

تحلیل پوششی داده ها , بازده به مقیاس , مدل غیرشعاعی , کارایی , شرایط مکمل زائد قوی

Authors

مطهره یاری

گروه ریاضی دانشکده علوم پایه دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران جنوب

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Banker, R. D., Cooper, W.W., Seiford, L.M., Thrall, R.M., & ...
  • Sueyoshi, T., & Sekitani, K. _ Measuremet of returns to ...
  • Krivonozhko, V.E., Frsund, F.R., & Lychev, A.V. (2012b). Returms -to-scale ...
  • Banker, R.D., & Thrall, R.M. (1992). Estimation of returns to ...
  • Forsund, F.R., Hjalmarsson, L., Krivonozhko, V.E., & Utkin, O.B. (2oo7). ...
  • Cooper, W.W., Seiford L.M. Tone K., (2o00). Data envelopment analysis. ...
  • نمایش کامل مراجع