استفاده از تئوری ماتریس های تصادفی برای تصویربرداری از آرایه سنسور با سنجش نویز

تصویر برداری از یک بازتابنده کوچک که در یک محیط قرار گرفته است یک مسئله اساسی در تصویر کردن آرایه سنسور می باشد. هدف ما پیدا نمودن بازتابنده ای است که در یک محیط قرار گرفته است و جاسازی شده است.این محیط توسط آرایه ای از منابع کاوش می شود و جستجو می گردد و سیگنال های بازگشتی از بازتابنده توسط یک آرایه از گیرنده ثبت شده اند.وقتی پاسخ بین هر جفت ازمنبع و گیرنده در کنار یکدیگر قرار بگیرند اطلاعات موجود به صورت ماتریس پاسخ قرار می گیرند. هنگامی که داده ها و اطلاعات موجود بر اثر اضافه شدن نویز تخریب می گردند ما نشان می دهیم که چگونه ابزار های تئوری ماتریس تصادفی می توانند به شناسایی، متمرکزشدن و توصیف بازتابنده کمک کنند

Keywords:

اکتساب داده ها , تئوری ماتریس های تصادفی , تجزیه مقدار تکین , ماتریس پاسخ