بررسی توپوگرافی سطح نانو ساختار نیترید مس – نقره تهیه شده به روش لایه نشانی مغناطیسی DC
Publish Year: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 504
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PFCONF01_146
تاریخ نمایه سازی: 30 بهمن 1394
Abstract:
در این مقاله توپوگرافی سطح لایه های نازک نانو کامپوزیت مس – نقره را که به روش لایه نشانی مغناطیسیDC لایه نشانی شده است، بررسی می کنیم. تصاویر سطح نمونه ها با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) در مد غیر تماسی ثبت شده است. در روش مورد استفاده، سطح نمونه ها را به متیف هائی با درهها یا قله هائی مشخص و یا متیف هائی با اشکال نامنظم تقسیم بندی می کنیم و با استفاده از پارامترهایآماری مربوطه به مطالعه مورفولوژی سطح می پردازیم طیف XRD حاصل از نمونه ها بر تشکیل ساختارآمورف دلالت دارد.
Authors
مژگان کاکایی
گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، واحد کرمانشاه، دانشگاه آزاد اسلامی کرمانشاه، ایران
سحر رضایی
گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، واحد کرمانشاه، دانشگاه آزاد اسلامی کرمانشاه، ایران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :