مروری بر روش های ارزیابی تاثیر خطای های محیط هوافضا بر میکروالکترونیک و ارائه بستر تست خطای SEE
Publish place: Conference on New Findings in Aerospace and Related Sciences
Publish Year: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 471
This Paper With 19 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
MAARS01_221
تاریخ نمایه سازی: 16 اسفند 1394
Abstract:
با گسترش روند تجاری سازی صنایع هوافضا و در راستای کاهش هزینه تمام شده ، استفاده از قطعات تجاری در بخش های مختلف از جمله میکروالکترونیک ماهواره ها ، فضاپیما ها، ماهواره برها و صنایع وابسته به شدت گسترش یافته است . اما استفاده از قطعات تجاری در صنایع هوافضا ملاحظات و مسائل خاصی می طلبد . در این مقاله، با مروری مختصر بر دغدغه های میکروالکترونیک در صنایع هوافضا، به بحث و بررسی خطاهای نظم ناشی از تشعشعات فضایی پرداخت شده است. برای مدل سازی اینو خطاها، روش های مختلفی در مراجع مطرح شده است. این رویکردها، به صورت کامل دسته بندی و مرور گردیده و مزایا و معایب هر یک از آن ها توصیف شده است. همچنین اصول و نتایج پیاده سازی یک رویکرد مبتنی بر سخت افزار در این مقاله ارائه شده است. بستر سخت افزاری ارائه شده برای تست انواع خطاهای واژگونی دائمی یک یا چند بیت ، خطاهای گذرا و غیر قابل استفاده می باشد. روش تعیین مقدار عددی قابلیت اطمینان بر اساس نتایج حاصل از تزریق خطا نیز ارائه شده است. از بستر ارائه شده برای تست مدارهای محک استاندارد و طراحی های مقاوم از جمله ضرب کننده های مقابل استفاده شده است که بخشی از نتایج تست در این مقاله ارائه گردیده است.
Keywords:
Authors
رضا امیدی
استادیار دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه زنجان، ایران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :