بهینه سازی دمایی FPGA با استفاده از روش مسیریابی آگاه از دما

Publish Year: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 542

This Paper With 16 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

MAARS01_319

تاریخ نمایه سازی: 16 اسفند 1394

Abstract:

با توجه به اینکه در مدارات سه بعدی مساحت تراشه کاهش پیدا می کند در نتیجه چگالی توان در سطح تراشه افزایش پیدا می کند، افزایش چگالی توان منجر به ایجاد نقاط داغ در سطح تراشه می شود. افزایش حرارت باعث کاهش کارایی و طول عمر تلاش می شود. روش های مختلفی از جمله روش هایی که در مرحله بسته بندی تنش به کار می رود، روش مسیریابی آگاه از دما مسیر نت های تراشه را به گونه ای مشخص می کندچه نت های که توان زیادی مصرف می کنند از کانال های مجاور عبور نکنند. در این روش از عبور نت های با توان زیاد در یک راستای عمودی نیز اجتناب شده است. بنابراین با این روش از تراکم توان مصرفی در سطح تراشه کاسته شده است و این باعث توزیع دما در سطح تراشه و اجتناب از ایجاد نقاط داغ گردیده است.

Keywords:

آرایه های منطقی برنامه پذیر میدانی , توان مصرفی , توزیع دمایی , روش جایابی آگاه از دما

Authors

فاطمه صفاری

دانشجوی کارشناسی ارشد معماری کامپیوتر ، دانشگاه آزاد کرمان

علیرضا زیرک

عضو هیات علمی پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • T. Zhang, Y. Zhan, and S. S. Sapatnekar, _ Temperature- ...
  • S. Bhoj and D. Bhatia, "Thermal modeling and temperature driven ...
  • C. H. Tsai and S. M Kang, "Cell-level placement for ...
  • K. Poon, S. Wilton, and A. Yan, " A detailed ...
  • gate arrays, " ACM Transactions On Design Automation Electronic Systems ...
  • J. Jaffari and M. Anis, "Thermal Driven Placement for Island-style ...
  • S. Lopez-Buedo , J. Garrido, and E. Boemo, "Thermal testing ...
  • W. Huang, M. R. Stan, K. Skadron, K. S ankaranaray ...
  • V. Betz, J. Rose, and A. Marquardt, Architecture and CAD ...
  • F. N. Najm, "Low-pass filter for computing the transition density ...
  • J. Cong and Y. Ding, "FlowMap: An optimal technology mapping ...
  • Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions _ vol. ...
  • F. N. Najm, "Transition density: A new measure of activity ...
  • نمایش کامل مراجع